在芯片開(kāi)發(fā)過(guò)程中,調(diào)試就要耗費(fèi)50%左右的開(kāi)發(fā)時(shí)間和精力,這是一個(gè)不爭(zhēng)的事實(shí)。調(diào)試被認(rèn)為是半導(dǎo)體芯片設(shè)計(jì)與驗(yàn)證行業(yè)面臨的最棘手挑戰(zhàn)之一。本文將全面分析低功耗設(shè)計(jì)和驗(yàn)證面臨的各種復(fù)雜調(diào)試問(wèn)題。我們將借助相關(guān)示例來(lái)說(shuō)明如何避免或輕松解決這些問(wèn)題。本文還會(huì)重點(diǎn)討論一些低功耗設(shè)計(jì)可避開(kāi)的常見(jiàn)陷阱;如不避開(kāi),這些陷阱可能引起難以在設(shè)計(jì)后期調(diào)試的復(fù)雜低功耗問(wèn)題。全面分析低功耗設(shè)計(jì)和驗(yàn)證面臨的各種復(fù)雜調(diào)試問(wèn)題。借助相關(guān)示例來(lái)說(shuō)明如何避免或輕松解決這些問(wèn)題。重點(diǎn)討論一些低功耗設(shè)計(jì)可避開(kāi)的常見(jiàn)陷阱;如不避開(kāi),這些陷阱可能引起難以在設(shè)計(jì)后期調(diào)試的復(fù)雜低功耗問(wèn)題。