我們?知道?測(cè)試?寬?帶?5G IC?非常?有?挑戰(zhàn)?性,?因而?撰寫?了?《5G?半導(dǎo)體?測(cè)試?工程?師?指南》?來(lái)?幫助?您?解惑。?如果?您?是?sub-6 GHz?和?mmWave IC?測(cè)試?工程?師,?經(jīng)常?需要?在?時(shí)間、?成本?和?質(zhì)量?之間?進(jìn)行?權(quán)衡,?那么?本?指南?正是?您?所需?的。?該?指南?包含?了?大量?圖?解,?并?介紹?了?推薦?的?測(cè)試?步驟?以及?避免?常見(jiàn)?錯(cuò)誤?的?注意?事項(xiàng)。
主題包括:
·波形?變得?更寬?且?更?復(fù)雜
·儀器?必須?是?寬?帶?且?線性?的,?而且?必須?能夠?經(jīng)濟(jì)?高效?地?覆蓋?廣泛?的?頻率?范圍
·組?件?特性?分析?和?驗(yàn)證?需要?更?大量?測(cè)試
·大規(guī)模?MIMO?和?波束?形成?系統(tǒng)?的?無(wú)線?測(cè)試?使得?傳統(tǒng)?測(cè)量?對(duì)?空間?的?依賴?性?非常?高
·批量?生產(chǎn)?測(cè)試?需要?測(cè)試?系統(tǒng)?能夠?快速、?高效?地?進(jìn)行?擴(kuò)展