芯耀
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前言
除 0 操作屬于錯(cuò)誤操作，在 ARM Cortex M 平臺(tái)上會(huì)有相應(yīng)的報(bào)錯(cuò)機(jī)制。但這邊會(huì)涉及到整型數(shù)的除 0 以及浮點(diǎn)數(shù)的除 0，另外還會(huì)涉及錯(cuò)誤產(chǎn)生后的報(bào)錯(cuò)機(jī)制，是中斷還是錯(cuò)誤位，本文會(huì)對(duì)這個(gè)報(bào)錯(cuò)機(jī)制加以說明。使用 STM32H723 做為測(cè)試芯片。
整形數(shù)除 0 操作報(bào)錯(cuò)
默認(rèn)情況下，STM32H723 對(duì)整形數(shù)的除 0 操作，會(huì)忽略掉錯(cuò)誤，原因在于默認(rèn)情況下SCB->CCR 寄存器默認(rèn)配置中這個(gè)除 0 操作是非捕獲狀態(tài)，如果想要系統(tǒng)報(bào)錯(cuò)，需要把DIV_0_TRP 這個(gè)位置 1，這樣，當(dāng)執(zhí)行除 0 操作的時(shí)候會(huì)進(jìn)入 hardfault，并且有標(biāo)志位產(chǎn)生。
浮點(diǎn)數(shù)除 0 的報(bào)錯(cuò)機(jī)制
浮點(diǎn)數(shù)的除 0 操作，沒有專門的 Hardfault 觸發(fā)機(jī)制，也就不能產(chǎn)生中斷，只能通過對(duì) FPU單元的讀取進(jìn)行判別，而且在調(diào)試模式下，通過 IAR 讀取寄存器的結(jié)果是正確的，而通過 Keil 的讀取會(huì)有錯(cuò)誤，實(shí)際已經(jīng)發(fā)生了浮點(diǎn)除 0 操作，但 Keil 的 FPU->SCR 寄存器 DZC 沒有置位
結(jié)論
本文通過對(duì)除 0 操作的報(bào)錯(cuò)機(jī)制做細(xì)致說明，可以看到整型除 0 可以有 Hardfault 的中斷產(chǎn)生，而浮點(diǎn)的除 0 只能通過標(biāo)志位判別，實(shí)際使用過程中盡量避免這種錯(cuò)誤的操作。
