LAT1337 STM32G0B1 ADC數(shù)據(jù)異常原因

問(wèn)題描述

客戶在使用 STM32G0B1 進(jìn)行產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的時(shí)候，使用到了 ADC 模塊通道 0 進(jìn)行電壓檢測(cè)，在產(chǎn)品生產(chǎn)過(guò)程中，測(cè)試發(fā)現(xiàn)某些樣機(jī) ADC 采樣到的數(shù)據(jù)與實(shí)際不符合，誤差比較大，樣品除了 ADC 采樣數(shù)據(jù)誤差較大，其它功能都正常，客戶進(jìn)行了交叉測(cè)試，發(fā)現(xiàn)問(wèn)題是隨著 MCU 走，因此排除了板子的問(wèn)題，同時(shí)我方對(duì)客戶的原理圖以及軟件部分代碼進(jìn)行了復(fù)查，也沒(méi)有發(fā)現(xiàn)問(wèn)題。

因此客戶懷疑這些樣片有缺陷，申請(qǐng)了 FA 檢測(cè)，最終的測(cè)試報(bào)告表示樣片正常，但是客戶需要一個(gè)解釋，為什么某些樣片會(huì)存在 ADC 采樣數(shù)據(jù)偏差較大。

問(wèn)題分析

通過(guò)客戶反饋信息來(lái)看，排除了軟件代碼的問(wèn)題，同時(shí)也排除了電路原理圖的問(wèn)題，而 FA 測(cè)試也排除了芯片本身的問(wèn)題，Division 在客戶返回的樣品上進(jìn)行應(yīng)用測(cè)試，得出的結(jié)論是，ADC 在參考電壓 3.3V 的情況下，ADC 轉(zhuǎn)換得到的數(shù)據(jù)是符合要求的。而客戶的板子，ADC 參考電壓為 1.8V，重新進(jìn)行測(cè)試，最終發(fā)現(xiàn) ADC 轉(zhuǎn)換的數(shù)據(jù)偏差在 20mV 左右。

問(wèn)題解決

STM32G0B1 ADC 的局限性，導(dǎo)致了這個(gè)問(wèn)題，如果使用 STM32G0 系列 ADC，需要得到精確的采樣數(shù)據(jù)，注意 ADC 的參考電壓不得小于 3.0V。

總結(jié)

在設(shè)計(jì)之前，強(qiáng)烈建議客戶除了閱讀參考手冊(cè)，數(shù)據(jù)手冊(cè)等資料外，閱讀芯片勘誤表也是極為重要的，這樣可以規(guī)避芯片本身已知的一些局限。