共模噪聲和差模噪聲產(chǎn)生的機(jī)理 工模噪聲的影響

共模噪聲和差模噪聲是電路設(shè)計(jì)和測(cè)試中常見(jiàn)的問(wèn)題，它們的存在會(huì)影響電路性能。以下是關(guān)于它們的一些科普知識(shí)。

1.共模噪聲和差模噪聲產(chǎn)生的機(jī)理

共模噪聲和差模噪聲都是由于信號(hào)線(xiàn)周?chē)h(huán)境的電磁干擾所致。其中，共模噪聲是指微小信號(hào)在兩個(gè)終端之間的相同引用電位上受到的干擾；而差模噪聲是指微小信號(hào)在兩個(gè)終端之間的相反引用電位上受到的干擾。

對(duì)于共模噪聲，它可以來(lái)源于電源諧波干擾、接地回路噪聲、EFT、ESD等各種外部EMI/EMC等干擾源。對(duì)于差模噪聲，由于其來(lái)源較多，如布線(xiàn)、傳輸介質(zhì)、變壓器中的磁耦合等都可以導(dǎo)致差模噪聲。

2.工模噪聲的影響

工作模式噪聲是指在電路自身操作過(guò)程中產(chǎn)生的噪聲。它與共模噪聲和差模噪聲不同，因?yàn)楹笳呤莵?lái)自于外部干擾源。而工作模式噪聲是由于電路組件（如MOSFET）內(nèi)部的隨機(jī)性（例如電流噪聲和轉(zhuǎn)移谷噪聲）或非理想行為（例如溫度漂移和1/f噪聲）所引起的。

工作模式噪聲通常會(huì)影響電路的性能，比如放大器的增益、帶寬和失真。減小工作模式噪聲是商業(yè)成功所必須的一步，同時(shí)也是電子設(shè)計(jì)師永恒的挑戰(zhàn)之一。