二次元和三次元測(cè)量?jī)x器有什么區(qū)別

二次元測(cè)量利用平面坐標(biāo)系進(jìn)行測(cè)量，主要適用于測(cè)量長(zhǎng)度、寬度等二維參數(shù)；而三次元測(cè)量則利用空間直角坐標(biāo)系進(jìn)行測(cè)量，可測(cè)量長(zhǎng)度、面積、體積等三維參數(shù)。因此，二次元和三次元測(cè)量的適用范圍以及測(cè)量精度都有所不同。

1.二次元測(cè)量?jī)x器

二次元測(cè)量?jī)x器主要包括平板投影儀、激光掃描測(cè)量?jī)x等。平板投影儀利用光學(xué)原理將被測(cè)物品投影到平面上，再利用光學(xué)或機(jī)械手段測(cè)量其尺寸和位置等參數(shù)；激光掃描測(cè)量?jī)x則通過(guò)發(fā)射線性或掃描激光束對(duì)被測(cè)物體進(jìn)行非接觸式測(cè)量，并據(jù)此生成三維模型。

2.三次元測(cè)量?jī)x器

三次元測(cè)量?jī)x器主要包括CMM（坐標(biāo)測(cè)量機(jī)）、3D掃描儀等。CMM利用xyz三軸移動(dòng)測(cè)頭對(duì)被測(cè)物體進(jìn)行點(diǎn)位、長(zhǎng)度、角度等多項(xiàng)參數(shù)的測(cè)量，可實(shí)現(xiàn)高精度三次元測(cè)量；而3D掃描儀則通過(guò)發(fā)射條紋光或激光束掃描被測(cè)物體表面，根據(jù)反射光或散射光生成其三維模型。

3.總結(jié)

總之，二次元和三次元測(cè)量?jī)x器各有優(yōu)劣，應(yīng)根據(jù)具體需要選擇適合的儀器進(jìn)行測(cè)量。盲目追求高級(jí)別的測(cè)量?jī)x器并不一定能達(dá)到最好的測(cè)量效果，需要根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行選擇。