IC設(shè)計(jì)前仿真和后仿真的區(qū)別?
一個(gè)完整的電路設(shè)計(jì)中必然包含前仿真和后仿真兩個(gè)部分,它們都屬于驗(yàn)證的必要環(huán)節(jié)。尤其是在復(fù)雜的芯片設(shè)計(jì)中,驗(yàn)證要占用整個(gè)芯片設(shè)計(jì)流程時(shí)間的60%-70%。目的就是盡可能地對(duì)芯片功能進(jìn)行充分的驗(yàn)證,盡早暴露出問(wèn)題、解決問(wèn)題,以保證所有功能完全正確。那么前仿真和后仿真之間有哪些異同點(diǎn)呢?