原子力顯微鏡

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原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時(shí)它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發(fā)生形變或運(yùn)動(dòng)狀態(tài)發(fā)生變化。掃描樣品時(shí)，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級(jí)分辨率獲得表面形貌結(jié)構(gòu)信息及表面粗糙度信息。

原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時(shí)它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發(fā)生形變或運(yùn)動(dòng)狀態(tài)發(fā)生變化。掃描樣品時(shí)，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級(jí)分辨率獲得表面形貌結(jié)構(gòu)信息及表面粗糙度信息。收起

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  • 原子力顯微鏡
    原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM）是一種使用非接觸式探針技術(shù)進(jìn)行高分辨率表面形貌和物理性質(zhì)測量的顯微鏡。它能夠?qū)悠愤M(jìn)行原子級(jí)別的掃描和成像，具有成像精度高、分辨率高、能夠在空氣或液體環(huán)境下工作等優(yōu)點(diǎn)。原子力顯微鏡廣泛應(yīng)用于各種領(lǐng)域中，如材料科學(xué)、納米技術(shù)、生物醫(yī)學(xué)等。
  • 原子力顯微鏡有哪些工作模式 各有什么優(yōu)缺點(diǎn)
    原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM）是一種高分辨率的顯微鏡，用于觀察和測量物質(zhì)表面的形貌和力學(xué)性質(zhì)。與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡不同，原子力顯微鏡利用納米尖端探針掃描樣品表面，通過感知和測量納米級(jí)別的相互作用力來重建樣品的形貌。本文將重點(diǎn)介紹原子力顯微鏡的工作模式以及各自的優(yōu)缺點(diǎn)。

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