半導體制造業(yè)提供溫度管理解決方案的領導者——ERS electronic,現推出全新高功率溫度卡盤系統。該技術針對高端 CPU、GPU 和高并行性 DRAM 器件應用的晶圓測試,可在-60°C 至+200°C 溫度范圍內對 Device Under Test (DUT)進行精確且強大的溫度控制。 在對復雜的嵌入式處理器(如用于機器學習、人工智能或數據中心的 CPU 和 GPU)和高并行性測試(如
嵌入式處理器模組,又稱嵌入式核心板,或為CPU模組/核心板/SOM(System on Module),它是包含處理系統的核心電子部件的子電路板,集成了主芯片、存儲器(eMMC/Nand Flash)、運行內存(DDR)、電源和時鐘電路等。一般采用板對板連接器、郵票孔焊接、金手指等形式與底板連接。軟件方面,嵌入式核心板已完成基礎BSP和嵌入式操作系統的移植適配,在完善各個接口驅動的同時還會適配Ub