晶圓測(cè)試

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  • 突破14nm工藝壁壘：天準(zhǔn)科技發(fā)布TB2000晶圓缺陷檢測(cè)裝備
    開(kāi)啟國(guó)產(chǎn)缺陷檢測(cè)新紀(jì)元 蘇州2025年3月26日?/美通社/ -- 3月26日，蘇州天準(zhǔn)科技股份有限公司（股票代碼：688003.SH）宣布，旗下矽行半導(dǎo)體公司研發(fā)的明場(chǎng)納米圖形晶圓缺陷檢測(cè)裝備TB2000已正式通過(guò)廠(chǎng)內(nèi)驗(yàn)證，將于SEMICON 2025展會(huì)天準(zhǔn)展臺(tái)（T0-117）現(xiàn)場(chǎng)正式發(fā)布。 這標(biāo)志著公司半導(dǎo)體檢測(cè)裝備已具備14nm及以下先進(jìn)制程的規(guī)?；慨a(chǎn)檢測(cè)能力。這是繼TB1500突破40
  • WAT測(cè)試崗常見(jiàn)面試問(wèn)題
    請(qǐng)簡(jiǎn)述WAT測(cè)試的主要目的。WAT測(cè)試與CP測(cè)試的主要區(qū)別是什么？WAT測(cè)試在晶圓生產(chǎn)流程中的位置和作用是什么？請(qǐng)解釋摩爾定律對(duì)WAT測(cè)試的重要性。解釋在CMOS工藝中，WAT測(cè)試結(jié)構(gòu)的意義是什么？WAT參數(shù)的種類(lèi)有哪些？各自的作用是什么？請(qǐng)列舉幾種常見(jiàn)的有源器件和無(wú)源器件WAT測(cè)試參數(shù)。為什么WAT測(cè)試結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)在劃片槽中，而不設(shè)計(jì)在芯片內(nèi)部？在WAT測(cè)試中，如何確定測(cè)試參數(shù)是否合格？WAT數(shù)據(jù)對(duì)生產(chǎn)工藝的優(yōu)化有何幫助？
    WAT測(cè)試崗常見(jiàn)面試問(wèn)題
  • WAT測(cè)試與FT測(cè)試的區(qū)別
    把WAT測(cè)試比作在汽車(chē)生產(chǎn)線(xiàn)上每個(gè)工藝環(huán)節(jié)都要設(shè)置的質(zhì)量檢查站。這些檢查站會(huì)確保每一個(gè)零部件的生產(chǎn)質(zhì)量符合標(biāo)準(zhǔn)。比如，在生產(chǎn)發(fā)動(dòng)機(jī)時(shí)，WAT測(cè)試相當(dāng)于檢查發(fā)動(dòng)機(jī)的各個(gè)零件是否精準(zhǔn)、符合設(shè)計(jì)要求。如果某個(gè)零件不達(dá)標(biāo)，就會(huì)在這個(gè)環(huán)節(jié)被發(fā)現(xiàn)并處理。
  • CP測(cè)試和WAT測(cè)試的區(qū)別
    在集成電路的制造和測(cè)試過(guò)程中，CP測(cè)試（Chip Probing）和WAT測(cè)試（Wafer Acceptance Test）是兩個(gè)非常重要的測(cè)試環(huán)節(jié)。盡管它們都在晶圓（Wafer）階段進(jìn)行，但二者的目的、測(cè)試對(duì)象、測(cè)試內(nèi)容和作用是有顯著不同的。
    CP測(cè)試和WAT測(cè)試的區(qū)別
  • CP測(cè)試與FT測(cè)試的區(qū)別
    在集成電路（IC）制造與測(cè)試過(guò)程中，CP（Chip Probing，晶圓探針測(cè)試）和FT（Final Test，最終測(cè)試）是兩個(gè)重要的環(huán)節(jié)，它們承擔(dān)了不同的任務(wù)，使用不同的設(shè)備和方法，但都是為了保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。
    CP測(cè)試與FT測(cè)試的區(qū)別
  • 一文讀懂探針卡的概念、組成、分類(lèi)以及應(yīng)用
    探針卡（Probe Card）在集成電路測(cè)試中起著至關(guān)重要的作用，尤其在晶圓測(cè)試（wafer test）環(huán)節(jié)，探針卡作為連接ATE測(cè)試機(jī)臺(tái)和半導(dǎo)體晶圓之間的接口，確保了在芯片封裝前對(duì)其電學(xué)性能進(jìn)行初步測(cè)量和篩選。
    一文讀懂探針卡的概念、組成、分類(lèi)以及應(yīng)用
  • 晶圓生產(chǎn)中工藝參數(shù)監(jiān)控和測(cè)試相關(guān)的術(shù)語(yǔ)
    在晶圓生產(chǎn)中，"Monitor"指的是對(duì)設(shè)備、工藝或產(chǎn)品進(jìn)行實(shí)時(shí)或定期的監(jiān)控，以確保其處于正常的運(yùn)行狀態(tài)。例如，某些設(shè)備或工藝步驟需要通過(guò)"monitor"數(shù)據(jù)來(lái)判斷是否可以繼續(xù)生產(chǎn)。Monitor數(shù)據(jù)通常包括溫度、壓力、化學(xué)品濃度等關(guān)鍵參數(shù)。
    晶圓生產(chǎn)中工藝參數(shù)監(jiān)控和測(cè)試相關(guān)的術(shù)語(yǔ)
  • 晶圓測(cè)試與芯片測(cè)試有什么不同？
    從測(cè)試作業(yè)的精細(xì)程度和作業(yè)用人數(shù)量看，晶圓測(cè)試（CP）屬于“晶圓級(jí)”工藝，數(shù)千顆甚至數(shù)萬(wàn)顆裸芯片高度集成于一張晶圓上，對(duì)測(cè)試作業(yè)的潔凈等級(jí)、作業(yè)的精細(xì)程度、大數(shù)據(jù)的分析能力等要求較高，因此技術(shù)實(shí)力較強(qiáng)的測(cè)試廠(chǎng)商通過(guò)精益生產(chǎn)能夠?qū)崿F(xiàn)更好的效益，拉開(kāi)與其他對(duì)手的差距。
    晶圓測(cè)試與芯片測(cè)試有什么不同？
  • Melexis馬來(lái)西亞晶圓測(cè)試基地盛大落成，實(shí)現(xiàn)戰(zhàn)略擴(kuò)張
    全球微電子工程公司邁來(lái)芯宣布，其位于馬來(lái)西亞砂拉越州古晉的全球最大晶圓測(cè)試基地已圓滿(mǎn)落成。此次擴(kuò)張不僅標(biāo)志著邁來(lái)芯對(duì)半導(dǎo)體增長(zhǎng)需求的積極響應(yīng)，也體現(xiàn)公司在亞太地區(qū)擴(kuò)大的影響力和市場(chǎng)覆蓋的戰(zhàn)略布局。 邁來(lái)芯在馬來(lái)西亞的擴(kuò)張項(xiàng)目正式落成，這標(biāo)志著公司35年發(fā)展歷程中的又一重要里程碑。此次擴(kuò)張不僅是對(duì)全球半導(dǎo)體市場(chǎng)日益增長(zhǎng)需求的精準(zhǔn)把握，更是對(duì)未來(lái)十年內(nèi)預(yù)計(jì)半導(dǎo)體需求翻番趨勢(shì)的前瞻布局。邁來(lái)芯在古晉的晶
    Melexis馬來(lái)西亞晶圓測(cè)試基地盛大落成，實(shí)現(xiàn)戰(zhàn)略擴(kuò)張
  • 晶圓廠(chǎng)中dummy片,測(cè)試片,真片的區(qū)別是什么？
    學(xué)員問(wèn)：看資料有了解到晶圓廠(chǎng)中有dummy wafer，test wafer，真片的叫法，這幾種片子各自有什么作用嗎？
    晶圓廠(chǎng)中dummy片,測(cè)試片,真片的區(qū)別是什么？
  • CP,FT,WAT有什么區(qū)別？
    CP：Chip Probing,在半導(dǎo)體制造結(jié)束后，芯片從晶圓分割并封裝之前，使用探針卡接觸晶圓上的芯片，進(jìn)行電氣測(cè)試以確保它們符合規(guī)格，一般包括vt（閾值電壓），Rdson（導(dǎo)通電阻），BVdss（源漏擊穿電壓），Igss（柵源漏電流），Idss（漏源漏電流）等，不同類(lèi)別的產(chǎn)品測(cè)試的參數(shù)也不同。
    CP,FT,WAT有什么區(qū)別？
  • 太陽(yáng)光模擬器在晶圓硅片均勻加熱解決方案
    晶圓硅片是半導(dǎo)體行業(yè)中使用的一種重要材料。它是由單晶硅經(jīng)過(guò)一系列工藝加工而成的薄型圓片。晶圓在半導(dǎo)體制造過(guò)程中起到了基礎(chǔ)性的作用，是制作晶體管和集成電路的關(guān)鍵原材料。硅片是一種重要的半導(dǎo)體材料，被廣泛應(yīng)用于電路制造、太陽(yáng)能電池板等領(lǐng)域。
  • 6個(gè)芯片項(xiàng)目簽約，義烏搶占半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)新高地
    與非網(wǎng)7月8日訊 浙江義烏市招商引資項(xiàng)目集中簽約儀式舉行，22個(gè)項(xiàng)目成功簽約，總投資619.3億元。
  • 韋爾股份增資豪威半導(dǎo)體，提升 CMOS 傳感器芯片競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)
    此次增資是為了將公司發(fā)行股份購(gòu)買(mǎi)資產(chǎn)配套募集資金投向公司募投項(xiàng)目的建設(shè)中，以保障募投項(xiàng)目“晶圓測(cè)試及晶圓重構(gòu)生產(chǎn)線(xiàn)項(xiàng)目(二期)”順利實(shí)施，有助于加快公司募投項(xiàng)目建設(shè)。
  • 中微騰芯晶圓測(cè)試中心正式啟動(dòng)，填補(bǔ)南京集成電路圓片測(cè)試空白
    與非網(wǎng)9月26日訊，中微騰芯成立于2005年，系江蘇省科技廳授牌的“江蘇省集成電路測(cè)試服務(wù)中心”?，F(xiàn)有員工200余人，擁有大型專(zhuān)業(yè)測(cè)試和分析設(shè)備近600臺(tái)，廠(chǎng)房面積6000平米，其中凈化廠(chǎng)房近3000平米。
  • 晶圓測(cè)試與芯片測(cè)試有什么區(qū)別
    從測(cè)試作業(yè)的精細(xì)程度和作業(yè)用人數(shù)量看，晶圓測(cè)試（CP）屬于“晶圓級(jí)”工藝，數(shù)千顆甚至數(shù)萬(wàn)顆裸芯片高度集成于一張晶圓上，對(duì)測(cè)試作業(yè)的潔凈等級(jí)、作業(yè)的精細(xì)程度、大數(shù)據(jù)的分析能力等要求較高，因此技術(shù)實(shí)力較強(qiáng)的測(cè)試廠(chǎng)商通過(guò)精益生產(chǎn)能夠?qū)崿F(xiàn)更好的效益，拉開(kāi)與其他對(duì)手的差距。

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