ATE引腳電子器件的電平設(shè)置DAC校準(zhǔn)
摘要 本文提供一種校準(zhǔn)數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)的方法,專用于引腳電子器件驅(qū)動器、比較器、負(fù)載、PMU和DPS。DAC具有差分非線性(DNL)和積分非線性(INL)等非線性特性,我們可以通過增益和偏置調(diào)整來盡可能降低這些特性。本文描述如何執(zhí)行這些校準(zhǔn),以改善電平設(shè)置性能。 簡介 自動化測試設(shè)備(ATE)描述用于一次對單個或多個器件執(zhí)行單次或一系列測試的測試儀器。不同類型的ATE測試電子器件、硬件和半導(dǎo)體