Part 01、前言
在之前的文章中,我們介紹了兩種方式計算出米勒平臺電壓值,也說明了MOSFET的米勒效應(yīng)對于MOSFET的電路設(shè)計以及器件選型有很重要的影響,米勒效應(yīng)使得MOSFET柵極電壓的變化變得較慢從而會影響MOSFET的開關(guān)速度,其次米勒效應(yīng)導(dǎo)致的柵極電流的增加和電容充電過程會增加開關(guān)損耗,同時柵極電壓的變化可能導(dǎo)致MOSFET的不穩(wěn)定工作,特別是在高頻或快速開關(guān)時,這可能導(dǎo)致振蕩、過沖、甚至導(dǎo)致MOSFET損壞。
MOSFET米勒效應(yīng)有這么多的影響,一個關(guān)鍵的因素就是由于柵極-漏極之間的電容Cgd的存在導(dǎo)致的,但是打開MOSFET的規(guī)格書,我們發(fā)現(xiàn)規(guī)格書中只給出了輸入電容(Ciss),輸出電容(Coss),反向傳輸電容(Crss),并沒有我們想要的柵-源Cgs寄生電容,柵-漏Cgd寄生電容,漏-源Cds寄生電容,并且Cgd,Cds會隨Vds電壓變化,接下來我們就講一講如果基于輸入電容(Ciss),輸出電容(Coss),反向傳輸電容(Crss)通過計算準確得到不同Vds電壓下的柵-源Cgs寄生電容,柵-漏Cgd寄生電容,漏-源Cds寄生電容。
Part 02、如何理解Ciss,Coss,Crss?
在講解計算方法之前,我們需要理解一下輸入電容(Ciss),輸出電容(Coss),反向傳輸電容(Crss)是什么東西才行。
1. 輸入電容 (Ciss)
輸入電容是MOSFET的柵極到源極電容(Cgs)和柵極到漏極電容(Cgd)的總和:
輸入電容代表柵極控制端對源極的電容性負載。在開關(guān)過程中,驅(qū)動電路需要克服這個電容進行充放電,從而改變MOSFET的導(dǎo)通或關(guān)斷狀態(tài)。輸入電容越大,驅(qū)動電路需要更多電流和時間進行充電,開關(guān)速度會變慢。的輸入電容需要更強的驅(qū)動能力,增加驅(qū)動電路功耗。
2.輸出電容 (Coss)
輸出電容是漏極到源極電容(Cds)和柵極到漏極電容(Cgd)的總和:
輸出電容反映了漏極到源極的電容性負載特性,主要與MOSFET的耐壓和電極結(jié)構(gòu)有關(guān)。在LLC等諧振變換器中,輸出電容參與諧振,直接影響諧振頻率。
3.反向傳輸電容(Crss)反向傳輸電容是柵極到漏極電容(Cgd),也稱為"米勒電容":
反向傳輸電容反映了漏極電壓變化對柵極電壓的影響。由于漏極電壓變化會通過Cgd耦合到柵極,導(dǎo)致“米勒效應(yīng)"。在開關(guān)過程中,漏極電壓變化會導(dǎo)致柵極電壓出現(xiàn)額外的充放電需求,減慢開關(guān)速度。
MOSFET的Cgs、Cgd、Cds 都是非線性電容,它們隨漏源電壓(Vds)和柵源電壓(Vgs)的變化而變化,Cgs通常為恒定值,因為它主要由柵極與溝道的重疊區(qū)域決定。Cgd在低Vds時較大,隨著Vds增加而減小。Cds主要由漏源之間的結(jié)電容決定,隨Vds增大而減小。
所以雖然反向傳輸電容Crss就是柵極到漏極電容(Cgd),也就是米勒電容,但是米勒電容是隨著Vds的增加而減小的,但是規(guī)格書中只會給出特定條件下的Crss,比如下圖的Vds=15V,那如果我們電路中的Vds電壓和規(guī)格書中的不一樣怎么辦呢?
Part 03、Cgs、Cgd、Cds的計算
方式1:基于規(guī)格書給出的參數(shù)計算,缺點是MOSFET的寄生電容是非線性的,尤其是Cgd和Cds,它們會隨漏源電壓(Vds)變化。因此,手冊中的電容值通常是在特定Vds條件下測量的。
方式2:Ciss通常為恒定值,這樣Ciss我們可以使用規(guī)格書中的值,Coss和Crss與VDS電壓有關(guān),我們就可以通過下面的計算公式來計算出我們的MOSFET電路在實際VDS電壓下的Coss和Crss。
其中,VDS,spec是規(guī)格書中Crss,Coss對應(yīng)的VDS測試電壓,VDS,off是我們實際電路中對應(yīng)的VDS電壓,Crss,spec,Coss,spec是規(guī)格書中給出的Crss以及Coss值。通過計算出實際電路對應(yīng)的Vds下的Crss,Coss,再結(jié)合規(guī)格書中的Ciss就能計算出更加準確的Cgd,Cds,Cgs。
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