Part 01、前言
上一篇文章我們介紹了MOSFET導(dǎo)通過程中的開關(guān)損耗的計(jì)算方法,接下來就講一下MOSFET在關(guān)斷過程中的交叉損耗計(jì)算,主要是要估算關(guān)斷時(shí)的交叉時(shí)間,然后算出功耗。
MOSFET關(guān)斷時(shí),漏源電壓Vds和電流ID不是瞬間變成0的,會有個(gè)過渡過程。這段時(shí)間里,電壓和電流同時(shí)存在,功率Vds × ID就變成了損耗。交叉損耗直接影響MOSFET的發(fā)熱,尤其在高頻開關(guān)電路(比如Buck轉(zhuǎn)換器)中,頻率高了,損耗累積起來就不小,散熱得跟上。
Part 02、交叉損耗計(jì)算
關(guān)斷交叉損耗的計(jì)算公式:
Vin:輸入電壓
Io:負(fù)載電流
tcrossturnoff:關(guān)斷時(shí)的交叉時(shí)間(也就是電壓電流重疊時(shí)間)
fsw:開關(guān)頻率
那么我們需要先計(jì)算出關(guān)斷交叉時(shí)間tcrossturnoff:
T2:米勒平臺階段,Vds從低電壓上升到高電壓的時(shí)間。
T3:柵極電壓從米勒平臺下降到閾值電壓VT的時(shí)間。
計(jì)算T2:米勒平臺時(shí)間
Vin:輸入電壓,假定是15V
Cgd:柵漏電容,假定是0.75pF
Rdrive:驅(qū)動電阻,假定是1Ω
VT:閾值電壓,假定是1.05V
Io:負(fù)載電流,假定是22A
g:MOSFET跨導(dǎo),假定是100S
代入公式:
T2是米勒平臺階段,柵極電壓被"卡住",因?yàn)闁怕╇娙?Cgd 在放電,VDs 快速上升到輸入電壓,電流ID開始下降。這段時(shí)間是關(guān)斷損耗的主要部分。
計(jì)算T3:柵極放電時(shí)間
Tg:柵極放電時(shí)間常數(shù):
其中Cg是柵極電容,假定是300pF。
代入公式:
T3是柵極電壓從米勒平臺下降到閾值電壓的時(shí)間,MOSFET電流ID已經(jīng)降到0,Vds保持高電壓。
總交叉時(shí)間tcrossturnoff:
總關(guān)斷交叉損耗Pcrossturnoff:
代入公式:
0.83W是關(guān)斷時(shí)的交叉損耗,500kHz頻率下,每次關(guān)斷都會產(chǎn)生微小損耗,累積起來就是這個(gè)數(shù)。
總交叉損耗Pcross:
Pcrossturnon:導(dǎo)通交叉損耗,0.64 W (上一篇文章的計(jì)算結(jié)果)
Pcrossturnoff:關(guān)斷交叉損耗,0.83 W
總交叉損耗1.47W是MOSFET在開關(guān)過程中(導(dǎo)通+關(guān)斷)的損耗,加上導(dǎo)通損耗(I × I?× RDS(on)),就可以結(jié)合熱阻來評估總發(fā)熱對應(yīng)的溫升了。
Part 03、總結(jié)
MOSFET關(guān)斷時(shí)的交叉損耗主要是T2(米勒平臺)和T3(柵極放電)兩個(gè)階段,算下來是0.83W,加上導(dǎo)通損耗,總交叉損耗共1.47W。設(shè)計(jì)時(shí)可以降低驅(qū)動電阻、選低Cgd的MOSFET,或者調(diào)低頻率來優(yōu)化。
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