尼得科精密檢測科技參展PCIM Expo & Conference 2025

尼得科精密檢測科技株式會(huì)社（以下簡稱“本公司”）將參展2025年5月6日（星期二）～５月８日（星期四）在德國紐倫堡市舉辦的“PCIM Expo & Conference 2025”。

在本次展會(huì)上，電力電子行業(yè)將匯聚一堂，旨在跨越國界共同探索最新的研發(fā)趨勢，整個(gè)行業(yè)共同分享創(chuàng)意，提供解決方案。

本公司在本次展會(huì)上將展示從芯片（Chip）級(jí)到系統(tǒng)級(jí)面向功率器件的先端檢測系統(tǒng)。此外，還將現(xiàn)場實(shí)際演示有助于縮短研發(fā)周期的HILS（Hardware-In-the-Loop Simulation）平臺(tái)。

今后，本公司將繼續(xù)以行業(yè)先端的測量和檢測技術(shù)為全球制造業(yè)做出貢獻(xiàn)。

〈參展概要〉

• 展期：2025年5月6日(星期二)～5月8日(星期四)
• 展館：德國紐倫堡市 NürnbergMesse展覽中心
• 展位：4-432
• 官網(wǎng)：https://pcim.mesago.com/events/en.html

〈參展內(nèi)容〉

• 用于IGBT/SiC功率模塊的絕緣/靜態(tài)特性/動(dòng)態(tài)特性檢測裝置“NATS-1000/1700系列”
• SiC模塊可靠性測試裝置“NATS-8000系列”
• 電機(jī)測試臺(tái)用逆變器&POWER HIL電機(jī)模擬器 “R-1100”
• 運(yùn)用AI技術(shù)的xEV建模模擬器 “E-Transport Simulator?”
• AC/DC電容測量用多功能測試儀“R-700系列”
• 半導(dǎo)體器件穩(wěn)定測量探針“TC-Probe”
• 適用于高電壓的加壓結(jié)構(gòu)探針卡 “Chamber head Probe Card”
• 適用于高溫/高電流的探針 “3H+ Probe”