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• 高逼真合成數(shù)據(jù)助力智駕“看得更準、學得更快”

  自動駕駛研發(fā)如何高效獲取海量訓練數(shù)據(jù)？高逼真合成數(shù)據(jù)技術正在提供新解法。通過仿真平臺可生成多場景、多傳感器的精準標注數(shù)據(jù)。文章詳解如何構建符合nuScenes標準的數(shù)據(jù)集，覆蓋復雜交通場景，為感知模型訓練提供高效、可控的數(shù)據(jù)支持。

  康謀科技

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  04/29 11:30

  測試測量 算法

  
• 從直流到高頻，半導體材料電特性參數(shù)的全面表征與測量

  從鍺晶體管到 5G 芯片，半導體材料的每一次突破都在重塑人類科技史。Si材料的規(guī)?；瘧瞄_啟了信息時代，SiC/GaN等寬禁帶材料則推動新能源革命。這些進步的背后，材料測試技術始終扮演著 "科技眼睛" 的角色，它不僅能檢測材料導電性、絕緣性等基礎性能，更能揭示原子尺度的微觀奧秘，成為半導體產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新的核心驅動力。

  是德科技KEYSIGHT

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  04/24 16:35

  半導體材料 測試技術

  
• 深圳南柯電子 顯示器EMC電磁兼容性測試整改 測試到合規(guī)的指南

  在電子設備日益普及的今天，電磁兼容性（EMC）已成為衡量產(chǎn)品性能與合規(guī)性的核心指標之一。顯示器作為信息交互的關鍵終端，其EMC性能不僅影響設備自身的穩(wěn)定性，更關乎周邊電子設備的正常運行。

  eefocus_4057551

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  04/15 13:39

  EMC 電磁兼容
• 接觸回路電阻測試儀用途及操作 凱迪正大KDHL 100

  武漢凱迪正大KDHL-100 回路電阻測試儀是針對電力系統(tǒng)中高壓開關接觸電阻測量設計的設備，采用直流 100A 測試電流（符合電力部標準要求），可準確測量 1—1999.9μΩ 的回路電阻與接觸電阻（分辨率 0.1μΩ，精度 0.5%），支持數(shù)字顯示。 KDHL-100 解決了常規(guī)電橋測試電流不足、受氧化層影響導致測量偏差的問題，適用于電力現(xiàn)場維修及開關廠測試。

  武漢凱迪正大電氣有限公司

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  04/14 16:41

  電流 測試儀
• 泡沫緩沖性能沖擊試驗機在泡棉測試中的應用與技術解析

  泡棉廣泛應用于包裝、汽車內飾、電子防護等領域，其緩沖性能關乎產(chǎn)品安全。泡沫緩沖性能沖擊試驗機通過模擬實際沖擊場景，為泡棉性能研究、質量把控及應用優(yōu)化提供關鍵數(shù)據(jù)，在泡棉產(chǎn)業(yè)中作用重大。 泡棉特性與緩沖原理 泡棉特性 泡棉一般具有低密度、高彈性和良好柔韌性。常見的聚氨酯、聚乙烯、聚苯乙烯泡棉，因化學結構與工藝不同各有特性。比如聚氨酯泡棉耐磨損、抗撕裂；聚乙烯泡棉防潮防水佳；聚苯乙烯泡棉成本低且有一定

  北京冠測

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  04/14 14:10

  測試機
• 信號完整性SI基礎知識介紹(一)

  下圖展示了電壓階躍是如何沿著印刷電路板（PCB）走線傳播的。在這個示例中，我們看到一條走線通過 PCB 板的介電材料與接地回流平面分隔開來。當信號沿著走線傳播時，變化的電場和磁場會跟隨波前。電磁波以 1.8×10? m/s的極快速度傳播，而電子從正極到負極的實際傳導速度卻非常慢，僅為 0.01m/s。

  通信射頻老兵

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  04/14 09:50

  信號完整性 SI

  
• 學子專區(qū)論壇- ADALM2000實驗：脈寬調制

  作者：Antoniu Miclaus，系統(tǒng)應用工程師 目標 在此實驗中，我們將研究脈寬調制及其在各種應用中的使用情況。 脈寬調制(PWM)是一種將模擬信號編碼為單個數(shù)字位的方法。PWM信號由定義其行為的兩個主要分量組成：占空比和頻率。 它通過將消息編碼成脈沖信號來傳輸信息，可用于電機等電子設備的功率控制，也可用作光伏太陽能電池充電器的主要算法。 占空比描述了信號處于高電平（開啟）狀態(tài)的時間占完成一

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  04/10 17:35

  運算放大器 PWM

  
• 新型離散周期變換方法如何處理生理信號

  作者：Dennis E. Bahr博士，Bahr Management, Inc.總裁兼生物醫(yī)學工程師 Marc Smith，首席工程師 摘要 本文介紹了新型滑動離散周期變換(DPT)算法，可設計用于處理生理信號，尤其是脈搏血氧儀采集的光電容積脈搏波(PPG)信號。該算法采用正弦基函數(shù)進行周期域分析，可解決隨機噪聲和非平穩(wěn)數(shù)據(jù)等難題。DPT在MATLAB?中作為滑動變換實現(xiàn)，結合了自相關與系綜平均

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  04/08 08:41

  測試測量 噪聲

  
• CMOS可靠性測試新趨勢：脈沖技術如何助力AI、5G、HPC？

  在半導體領域，隨著技術的不斷演進，對CMOS（互補金屬氧化物半導體）可靠性的要求日益提高。特別是在人工智能（AI）、5G通信和高性能計算（HPC）等前沿技術的推動下，傳統(tǒng)的可靠性測試方法已難以滿足需求。本文將探討脈沖技術在CMOS可靠性測試中的應用，以及它如何助力這些新興技術的發(fā)展。 引言 對于研究半導體電荷捕獲和退化行為而言，交流或脈沖應力是傳統(tǒng)直流應力測試的有力補充。在NBTI（負偏置溫度不穩(wěn)

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  04/08 08:40

  CMOS 模擬電路

  

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