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Hot Spot,即芯片內(nèi)部在常規(guī)運行或特定測試場景下,因缺陷導(dǎo)致的局部高溫區(qū)域。
Hot Spot,即芯片內(nèi)部在常規(guī)運行或特定測試場景下,因缺陷導(dǎo)致的局部高溫區(qū)域。收起