詳解錫膏工藝中不潤濕現(xiàn)象

04/23 07:29
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不潤濕是指在焊接過程中,焊料未能充分覆蓋基板焊盤或器件引腳表面,導致焊料與基底金屬之間形成較大的接觸角(通常>90°),且未形成有效冶金鍵合的現(xiàn)象。其典型特征為焊點表面呈現(xiàn)基底金屬本色(如銅色、鎳色),焊料僅部分附著或呈球狀聚集(如圖1-1所示)。此問題直接影響焊點的機械強度、熱循環(huán)可靠性及長期穩(wěn)定性。

圖 1-1 不潤濕現(xiàn)象

一、形成機理與核心原因

不潤濕的本質(zhì)是焊料與基底金屬間的界面反應受阻,具體原因可分為以下四類:

基底金屬表面狀態(tài)異常

氧化與污染:焊盤或引腳表面存在氧化層(如CuO、NiO)、有機污染物(油脂、助焊劑殘留)或金屬間化合物(如Au-Sn脆性層)。

鍍層缺陷:

ENIG(化學鍍鎳浸金):鎳層孔隙、磷含量超標(>8wt%)或金層過薄(<0.05μm)。

OSP(有機保焊膜):膜層過厚(>0.5μm)或受熱分解不完全,阻礙焊料浸潤。

HASL(熱風整平):焊盤邊緣因熱應力出現(xiàn)微裂紋,暴露內(nèi)部氧化銅層。

焊料合金與助焊劑失效

焊料雜質(zhì):鋁(Al)、鎘(Cd)、砷(As)等雜質(zhì)元素偏析,或焊粉氧化(氧化物含量>0.2wt%)。

助焊劑活性不足:

活性劑(如有機酸、鹵化物)濃度過低或高溫分解失效。

焊膏印刷后暴露時間過長(>4h),助焊劑揮發(fā)或吸濕。

再流焊工藝參數(shù)偏差

溫度曲線異常:

預熱區(qū)溫度不足(<120℃)或時間<60s,助焊劑未充分活化。

峰值溫度過高(>245℃)或液態(tài)以上時間(TAL)>60s,加速金屬氧化。

氣氛控制不當:

氧氣含量>1000ppm(未使用氮氣保護),導致焊盤高溫氧化。

焊接腔體濕度>10%RH,水汽與助焊劑反應產(chǎn)生氣孔。

設計與工藝適配性問題

細間距器件:模板開口尺寸<焊盤尺寸(如0.1mm差距),導致焊膏印刷量不足,邊緣潤濕不良。

混裝工藝:BGA與插件器件共爐焊接時,熱質(zhì)量差異導致局部溫度不均。

二、影響與風險評估

不潤濕對焊點可靠性的影響需結合以下維度評估:

三、系統(tǒng)級解決方案

材料優(yōu)化

焊盤表面處理:優(yōu)先選用ENEPIG(鎳鈀金)或沉銀(ImAg),避免純錫或OSP工藝。

焊料選擇:采用SAC305(Sn96.5Ag3.0Cu0.5)合金,控制焊粉氧含量<0.1wt%。

助焊劑升級:使用高活性免清洗助焊劑(如RA型),增強潤濕能力。

工藝調(diào)控

溫度曲線優(yōu)化:

預熱區(qū):120~150℃,時間90~120s。

回流區(qū):峰值溫度235~245℃,TAL<45s。

氮氣保護:焊接過程維持氧氣濃度<500ppm。

設計與工藝適配

模板設計:細間距器件采用階梯模板(StepStencil),開口尺寸≥焊盤尺寸0.05mm。

印刷參數(shù):刮刀壓力0.1~0.2MPa,印刷速度20~50mm/s,確保焊膏填充率>90%。

過程控制

焊前清潔:使用等離子體清洗機去除焊盤表面有機物。

AOI檢測:通過3D激光檢測焊點體積,結合潤濕角算法篩選不良品。

四、典型案例分析

案例1:BGA邊角焊球不潤濕

現(xiàn)象:X-ray檢測發(fā)現(xiàn)BGA四角焊球空洞率>30%,潤濕角>110°。

根因:模板開口比焊盤小0.15mm,導致焊膏印刷量不足;再流焊峰值溫度255℃(超出規(guī)格10℃)。

對策:修改模板開口尺寸,降低峰值溫度至240℃,空洞率降至5%。

案例2:OSP焊盤潤濕不良

現(xiàn)象:引腳焊點呈“縮錫”狀,潤濕角>90°。

根因:OSP膜層厚度0.8μm(超標0.3μm),助焊劑活性不足。

對策:更換低厚度OSP工藝(0.3μm),升級助焊劑活性等級,潤濕角降至45°。

通過材料、工藝與設計的協(xié)同優(yōu)化,不潤濕問題可得到有效控制,從而提升焊點的長期可靠性。

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