從全局出發(fā),介紹:
1.測試以及DFT的基本概念、理論基礎(chǔ);
2.DFT工作在芯片設(shè)計中的位置;
3.測試一顆芯片的測試內(nèi)容;
4.DFT的流程以及每步做的事情;
來自【愛芯人/QQ群187291154】
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從全局出發(fā),介紹:
1.測試以及DFT的基本概念、理論基礎(chǔ);
2.DFT工作在芯片設(shè)計中的位置;
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器件型號 | 數(shù)量 | 器件廠商 | 器件描述 | 數(shù)據(jù)手冊 | ECAD模型 | 風(fēng)險等級 | 參考價格 | 更多信息 |
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TMP112AIDRLR | 1 | Texas Instruments | ±0.5°C 1.4V to 3.6V digital temperature sensor with I2C/SMBus in 2.56mm2 package 6-SOT-5X3 -40 to 125 |
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$2.31 | 查看 | |
1865-03G-KDN | 1 | Honeywell Sensing and Control | Strain Guage Sensor, Gage, 0Psi Min, 15Psi Max, 38-42mV, Round, Through Hole Mount, PLASTIC, DIP-8 |
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$161.44 | 查看 | |
MT9J003I12STCV2-DP | 1 | onsemi | CMOS Image Sensor, 10 MP, 1/2.3", 2400-JTRAY |
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$39.29 | 查看 |