碳化硅襯底

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  • 測量探頭的溫漂問題對碳化硅襯底厚度測量有什么影響
    測量探頭的溫漂問題對碳化硅襯底厚度測量可能會產生一定影響，主要體現(xiàn)在以下幾個方面： 精度影響：溫漂問題可能導致測量探頭在不同溫度下表現(xiàn)出不同的熱膨脹特性，從而引起探頭長度的微小變化。這種長度變化可能會對碳化硅襯底厚度測量的精度產生影響，尤其是在需要高精度測量的情況下。 穩(wěn)定性問題：溫漂問題可能使測量探頭的初始校準值隨溫度變化而發(fā)生漂移，導致測量結果的不穩(wěn)定性，尤其在長時間或頻繁測量的情況下。 反復

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