碳化硅襯底

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  • 測(cè)量探頭的溫漂問(wèn)題對(duì)碳化硅襯底厚度測(cè)量有什么影響
    測(cè)量探頭的溫漂問(wèn)題對(duì)碳化硅襯底厚度測(cè)量可能會(huì)產(chǎn)生一定影響，主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面： 精度影響：溫漂問(wèn)題可能導(dǎo)致測(cè)量探頭在不同溫度下表現(xiàn)出不同的熱膨脹特性，從而引起探頭長(zhǎng)度的微小變化。這種長(zhǎng)度變化可能會(huì)對(duì)碳化硅襯底厚度測(cè)量的精度產(chǎn)生影響，尤其是在需要高精度測(cè)量的情況下。 穩(wěn)定性問(wèn)題：溫漂問(wèn)題可能使測(cè)量探頭的初始校準(zhǔn)值隨溫度變化而發(fā)生漂移，導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果的不穩(wěn)定性，尤其在長(zhǎng)時(shí)間或頻繁測(cè)量的情況下。 反復(fù)

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