AFM

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AFM全稱Atomic Force Microscope,即原子力顯微鏡,它是繼掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope)之后發(fā)明的一種具有原子級高分辨的新型儀器,可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進(jìn)行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進(jìn)行探測,或者直接進(jìn)行納米操縱;現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、納米功能材料、生物、化工、食品、醫(yī)藥研究和科研院所各種納米相關(guān)學(xué)科的研究實(shí)驗(yàn)等領(lǐng)域中,成為納米科學(xué)研究的基本工具。

AFM全稱Atomic Force Microscope,即原子力顯微鏡,它是繼掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope)之后發(fā)明的一種具有原子級高分辨的新型儀器,可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進(jìn)行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進(jìn)行探測,或者直接進(jìn)行納米操縱;現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、納米功能材料、生物、化工、食品、醫(yī)藥研究和科研院所各種納米相關(guān)學(xué)科的研究實(shí)驗(yàn)等領(lǐng)域中,成為納米科學(xué)研究的基本工具。收起

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  • Park Systems擴(kuò)展FX大型樣品AFM產(chǎn)品線
    /美通社/ -- 全球原子力顯微鏡(AFM)領(lǐng)軍企業(yè)Park Systems在2025年韓國半導(dǎo)體展覽會上推出了擴(kuò)展版FX大型樣品AFM系列產(chǎn)品。 繼Park FX200在2024年西部半導(dǎo)體展覽會(SEMICON West)首次亮相并隨后在德國、日本和韓國市場獲得強(qiáng)烈反響之后,Park Systems又推出了用于300毫米晶圓分析的Park FX300,以及集成了紅外(IR)光譜技術(shù)的Park
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  • 為什么器件失效分析需要AFM機(jī)臺?
    失效分析是確保集成電路和微電子器件可靠性、優(yōu)化制造工藝的重要環(huán)節(jié)。隨著技術(shù)的進(jìn)步,特別是進(jìn)入5nm、7nm等先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)后,器件失效模式變得更為復(fù)雜,要求我們使用各種高精度的分析工具進(jìn)行失效定位和機(jī)理分析。原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,簡稱AFM)就是其中一種重要的分析工具。
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