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關(guān)于IC驗(yàn)證方面的雜談，涉及驗(yàn)證步驟、主要驗(yàn)證崗位和部分企業(yè)驗(yàn)證面試問(wèn)題（有點(diǎn)真東西）。

IC驗(yàn)證流程主要包括以下幾個(gè)關(guān)鍵步驟

理解DUT

驗(yàn)證工程師需要深入理解芯片規(guī)格，包括架構(gòu)、數(shù)據(jù)流向、基本功能、接口、IP、協(xié)議和寄存器定義等。這一步是驗(yàn)證工作的基礎(chǔ)，只有充分理解規(guī)格，后續(xù)的驗(yàn)證工作才能充分進(jìn)行。

制定驗(yàn)證計(jì)劃

驗(yàn)證計(jì)劃需要包括驗(yàn)證策略方法、人力資源調(diào)配、項(xiàng)目進(jìn)度評(píng)估和風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估等內(nèi)容。對(duì)于驗(yàn)證工程師來(lái)說(shuō)，主要考慮功能測(cè)試點(diǎn)、驗(yàn)證層次、驗(yàn)證方法和驗(yàn)證覆蓋率等技術(shù)層面的內(nèi)容。

搭建驗(yàn)證平臺(tái)

根據(jù)驗(yàn)證方案，驗(yàn)證工程師需要編寫(xiě)驗(yàn)證環(huán)境，通常會(huì)使用UVM平臺(tái)和Python腳本輔助搭建，并通過(guò)冒煙測(cè)試確認(rèn)驗(yàn)證平臺(tái)的完整性。

提取測(cè)試點(diǎn)

驗(yàn)證工程師需要詳細(xì)分析和提取測(cè)試點(diǎn)，這些測(cè)試點(diǎn)是驗(yàn)證工作開(kāi)展的核心依據(jù)。測(cè)試點(diǎn)的提取需要確保完備性、低耦合性和無(wú)歧義。

執(zhí)行驗(yàn)證

根據(jù)提取的測(cè)試點(diǎn)，驗(yàn)證工程師需要編寫(xiě)測(cè)試用例并在驗(yàn)證平臺(tái)上執(zhí)行。這是一個(gè)反復(fù)迭代的過(guò)程，需要不斷優(yōu)化和改進(jìn)。

完備性分析

在驗(yàn)證過(guò)程中和驗(yàn)證結(jié)束后，驗(yàn)證工程師需要對(duì)功能覆蓋率、代碼覆蓋率和接口完備性進(jìn)行確認(rèn)，確保所有需求和接口都已覆蓋并且滿足要求。

這些步驟構(gòu)成了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的IC驗(yàn)證流程，每一步都需要仔細(xì)規(guī)劃和執(zhí)行，以確保驗(yàn)證的質(zhì)量和完整性。

下面看看市場(chǎng)上招聘IC驗(yàn)證比較多的方向

SOC驗(yàn)證

負(fù)責(zé)整個(gè)芯片系統(tǒng)級(jí)的功能驗(yàn)證，包括軟硬件協(xié)同驗(yàn)證、性能驗(yàn)證和系統(tǒng)集成測(cè)試。主要要求：

高速接口驗(yàn)證

專注于各類高速接口IP的功能驗(yàn)證，如PCIe、USB、HDMI等。主要要求：

處理器驗(yàn)證

負(fù)責(zé)CPU/GPU/NPU等處理器核心的功能驗(yàn)證。主要要求：

總線協(xié)議驗(yàn)證

專注于片上總線和互聯(lián)網(wǎng)絡(luò)的驗(yàn)證，如AXI、APB、NoC等。主要要求：

存儲(chǔ)系統(tǒng)驗(yàn)證

負(fù)責(zé)各類存儲(chǔ)控制器和存儲(chǔ)系統(tǒng)的驗(yàn)證。主要要求：

多媒體驗(yàn)證

負(fù)責(zé)視頻/音頻編解碼、圖像處理等多媒體IP的驗(yàn)證。主要要求：

下面具體看看各家企業(yè)驗(yàn)證崗位面試問(wèn)題

平頭哥（數(shù)字IC驗(yàn)證工程師，一面）

平頭哥（數(shù)字IC驗(yàn)證工程師，二面）

芯動(dòng)科技（IC驗(yàn)證，一面）

芯動(dòng)科技（IC驗(yàn)證，二面）

驗(yàn)證項(xiàng)目中，從自己現(xiàn)在的思維出發(fā)提取驗(yàn)證點(diǎn)，你會(huì)考慮到哪些，怎樣考慮？

進(jìn)迭時(shí)空（IC驗(yàn)證，一面）

字節(jié)跳動(dòng)（IC驗(yàn)證，一面）

一面

自我介紹；

介紹一下mcdf的驗(yàn)證環(huán)境

功能覆蓋組的定義；具體收集了哪些測(cè)試點(diǎn)?千萬(wàn)不要說(shuō)FIFO掉進(jìn)坑里面了；

UVM相對(duì)于SV的優(yōu)勢(shì)?

sequence機(jī)制的優(yōu)點(diǎn)?

virt_seq和virt_sqr的意義；

virt_seq的底層seq如何掛載對(duì)應(yīng)的底層sqr上面；

模塊級(jí)和系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證的區(qū)別?

ARM（IC驗(yàn)證）

一面

自我介紹

IIC項(xiàng)目介紹，apb_agt和IIC_agt；

IIC中斷功能的驗(yàn)證，舉個(gè)例子

UVM的factory機(jī)制?

UVM的phase機(jī)制?

用過(guò)哪些仿真工具?

python和shell學(xué)過(guò)沒(méi)有?

ASIC設(shè)計(jì)的流程?

二面

講講DUT的功能，驗(yàn)證環(huán)境；

cgm的收集了哪些信息？有做cross嗎？

sbd如何比較數(shù)據(jù)?

phase機(jī)制的幾個(gè)核心的phase；

uvm_do的大概執(zhí)行過(guò)程；

fork join三兄弟的區(qū)別?

#0的作用

SV除了那三個(gè)同步的方法以外還有其他的嗎?

進(jìn)程和線程的區(qū)別？

linux下將相應(yīng)的日志信息輸出到某些文件;

#include和#< >的區(qū)別?

vlitate關(guān)鍵詞開(kāi)辟空間在哪個(gè)階段？

地平線（IC驗(yàn)證）

自我介紹?

對(duì)地平線的了解?

為什么選擇IC驗(yàn)證?

實(shí)驗(yàn)室項(xiàng)目介紹?

數(shù)字IC流程介紹?

中斷的概念？中斷的應(yīng)用場(chǎng)景？中斷的向量地址？

異步FIFO和同步器的使用場(chǎng)合？

脈沖同步器的介紹，展寬電路的時(shí)鐘是哪個(gè)？

多bit信號(hào)為什么不能使用多級(jí)DFF？

前仿真和后仿真的概念？

前仿真可以檢查亞穩(wěn)態(tài)的問(wèn)題嗎？

綜合的輸出有SDF文件？

時(shí)序約束的概念？

驗(yàn)證無(wú)法檢查DUT的哪些方面?

$display和$monitor的區(qū)別？

知道timeslot嗎？

MTK

一面

自我介紹；

寫(xiě)過(guò)一些verilog小項(xiàng)目嗎；

跨時(shí)鐘域處理辦法；

介紹項(xiàng)目(驗(yàn)證環(huán)境、測(cè)試點(diǎn)、覆蓋率、遇到的問(wèn)題、接口協(xié)議)；

斷言（a升高，則b連續(xù)五個(gè)周期保持為高）；

海思

一面

介紹IIC項(xiàng)目的驗(yàn)證環(huán)境，驗(yàn)證了哪些功能；收集了哪些特性的覆蓋率信息。predictor的作用；APB和IIC agent中driver和monitor的作用；scoreboard如何進(jìn)行數(shù)據(jù)比對(duì)(期望值和實(shí)際值)，在仿真完成后是否有做檢測(cè)(面試官說(shuō)是否測(cè)試數(shù)據(jù)隊(duì)列里面是否還有數(shù)據(jù)，如果有錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)該如何處理)；covergroup和coverpoint和bins的區(qū)別；sample是以covergroup還是coverpoint為對(duì)象；覆蓋組的coverpoint如何定義；

mcdf驗(yàn)證了哪些功能；仲裁器如何驗(yàn)證；將dut內(nèi)部信號(hào)拉出來(lái)做驗(yàn)證的時(shí)候，需要考慮什么(仲裁器驗(yàn)證為例)；

測(cè)試點(diǎn)的理解；測(cè)試點(diǎn)和測(cè)試用例的區(qū)別和聯(lián)系；

手撕代碼，枕頭檢測(cè)；當(dāng)幀頭frame_head出現(xiàn)時(shí)，檢測(cè)din是否等于8’h23，如果連續(xù)三次出現(xiàn)，則輸出一個(gè)脈沖信號(hào)；

建立時(shí)間和保持時(shí)間的定義以及違法時(shí)解決辦法；

阻塞賦值和非阻塞賦值；

跨時(shí)鐘域同步方法；

IC功耗和哪些參數(shù)相關(guān)；

IC驗(yàn)證方向和知名公司面試題，驗(yàn)證必看！